X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, N.Y, August 31-September 4, 1987. Vol. 56
Tipo de material: TextoSeries Springer Series in Optical SciencesDetalles de publicación: New York Springer Verlag 1987Descripción: 454 pISBN:- 0-387-19392-8
Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Biblioteca Facultad de Ciencias Forestales Sede Zanjon | 681.723 SAY VOL 56 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 99 |
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