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X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, N.Y, August 31-September 4, 1987. Vol. 56 por
- SAYRE, David
- HOWELLS, Malcolm
- KIRZ, Janos
- RARBACK, Harvey
- SHIMODA, Koichi
- SIEGMAN, Anthony E
- TAMIR, Theodor
- MACADAM, David L
- SCHAWLOW, Arthur L
- LOTSCH, Helmut K. V
Series Springer Series in Optical Sciences
Tipo de material:  Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción
Detalles de publicación: New York Springer Verlag 1987
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Facultad de Ciencias Forestales Sede Zanjon (1)Signatura topográfica: 681.723 SAY VOL 56.
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