TY  - BOOK
AU  - SAYRE, David
AU  - HOWELLS, Malcolm 
AU  - KIRZ, Janos
AU  - RARBACK, Harvey
AU  - SHIMODA, Koichi 
AU  - SIEGMAN, Anthony E.
AU  - TAMIR, Theodor
AU  - MACADAM, David L.
AU  - SCHAWLOW, Arthur L.
AU  - LOTSCH, Helmut K. V.
TI  - X-Ray Microscopy II: Proceedings of the International Symposium, Brookhaven, N.Y, August 31-September 4, 1987.  Vol. 56 
T2  - Springer Series in Optical Sciences
SN  - 0-387-19392-8
PY  - 1987///
CY  - New York
PB  - Springer Verlag
KW  - MICROSCOPIA
KW  - MICROMETRIA
KW  - ILUMINACION
KW  - MICROSCOPIA CON LUZ
ER  -